CIME rubrique microsystèmes

Equipements - Microsystèmes et Capteurs

Caractérisation mécanique/optique

 
Pot vibrant
pv
  • Fabricant : DataPhysics
  • Modèle : V20
  • Caractéristiques techniques : DC -> 14kHz
Vélocimètre optique
vélocimètre optique
  • Fabricant : Polytec
  • Modèle : OFV 3001 + 502
  • Caractéristiques techniques :
Profilomètre optique
profilomètre optique
  • Fabricant : Fogale
  • Modèle : Photomap 3D
  • Caractéristiques techniques : mesures en statique et en dynamique
Microscope
microscope
  • Fabricant : Olympus
  • Modèle : BX51
  • Caractéristiques techniques : caméra reliée au PC

Caractérisation électrique

 
Testeur Ferroélectrique
testeur ferro
  • Fabricant : aixACCT
  • Modèle : aixPES
  • Caractéristiques techniques :
Station sous pointes
station sous pointe
  • Fabricant : Lakeshore
  • Modèle : CPX
  • Caractéristiques techniques : chambre sous vide, température contrôlable de -500°C à +200°C
Analyseur de réseaux (VNA)
analyseur de reseaux
  • Fabricant : Agilent
  • Modèle : E5061B
  • Caractéristiques techniques : 5Hz -> 3GHz
Analyseur d'impédance
analyseur d'impedanece
  • Fabricant : Hioki
  • Modèle : IM3570
  • Caractéristiques techniques : 4Hz -> 5MHz
Sourcemeter (SMU)
sourcemeter
  • Fabricant : Keysight
  • Modèle : B2901A
  • Caractéristiques techniques : 1 voie

Divers

  • Détection synchrone
  • Analyseur de signal
  • Générateurs de formes d'ondes
  • Oscilloscopes
  • Carte de génération et d'acquisition
  • Puits sec
  • Imprimante 3D

La plateforme dispose aussi d'un atelier avec : stations de soudage, perceuse à colonne, outil multi-usage (DREMEL), outils (tournevis, clés, pinces...).

Logiciels

 
Logo LabVIEW Logo OrCAD Logo MatLab Logo Agilent VEE
 
Nom Dernière Version Editeur Notes
LabVIEW 2022 National Instruments /
OrCAD Capture 2019 (17.4) Cadence /
Matlab 2022a Mathworks /
SolidWorks 2022 Dassault Systèmes /
Agilent VEE 9.2 Agilent /

Liste détaillée des équipements

 
Nom Modèle Marque Notes
Analyseur de Réseaux E5061B Agilent 5 Hz --> 3 GHz
Analyseur d'Impédance IM3570 Hioki 4 Hz --> 5 MHz
Analyseur de Signal 35660A HP 244 µHz --> 102 kHz
Détection Synchrone MFLI Zurich Instrument /
Détection Synchrone 7230 Ametek /
Détection Synchrone 5302 EG&G /
Pot vibrant V20 DataPhysics DC --> 14 kHz
Vélocimètre laser OFV 3001 + 502 Polytec /
Profilomètre Optique Photomap 3D Fogale /
Station sous pointes CPX LakeShore Atmosphère contrôlée
SMU (Sourcemètre) B2901A Keysight 1 voie
Microscope BX51 Olympus caméra reliée au PC
Puits sec 9102S Hart Scientific -10°C à 122°C
Oscilloscope (x8) DSOX2002A Keysight GBF intégré
Carte d'acquisition (x8) USB-6009 National Instruments IN : 48 kS/s, ±20V; OUT : 150 S/s, 0-5V
Carte d'acquisition (x2) 9234 National Instruments IN : 51.2 kS/s, ±5V, pour accéléromètres
Carte de génération (x2) 9263 National Instruments OUT : 100 kS/s, ±10V