CIME rubrique microsystèmes

Equipements - Microsystèmes et Capteurs

Caractérisation mécanique/optique

 

Pot vibrant

pv

  • Fabricant : DataPhysics
  • Modèle : V20
  • Caractéristiques techniques :         DC -> 14kHz

Vélocimètre optique

vélocimètre optique

  • Fabricant : Polytec
  • Modèle : OFV 3001 + 502
  • Caractéristiques techniques :

Profilomètre optique

profilomètre optique

  • Fabricant : Fogale
  • Modèle : Photomap 3D
  • Caractéristiques techniques : mesures en statique et en dynamique

Microscope

microscope

  • Fabricant : Olympus
  • Modèle : BX51
  • Caractéristiques techniques : caméra reliée au PC

Caractérisation électrique

 

Testeur Ferroélectrique

aixacct

  • Fabricant : aixACCT
  • Modèle : aixPES
  • Caractéristiques techniques :

Station sous pointes

lakeshore

  • Fabricant : Lakeshore
  • Modèle : CPX
  • Caractéristiques techniques :                   chambre sous vide, température contrôlable de -500°C à +200°C

Analyseur de réseaux (VNA)

vna

  • Fabricant : Agilent
  • Modèle : E5061B
  • Caractéristiques techniques : 5Hz -> 3GHz

Analyseur d'impédance

hioki

  • Fabricant : Hioki
  • Modèle : IM3570
  • Caractéristiques techniques : 4Hz -> 5MHz

Sourcemètre (SMU)

smu

  • Fabricant : Keysight
  • Modèle : B2901A
  • Caractéristiques techniques : 1 voie

Détection Synchrone

mfli

  • Fabricant : Zurich Instrument
  • Modèle : MFLI
  • Caractéristiques techniques : 

Divers

  • Détection synchrone
  • Analyseur de signal
  • Générateurs de formes d'ondes
  • Oscilloscopes
  • Carte de génération et d'acquisition
  • Puits sec
  • Imprimante 3D

La plateforme dispose aussi d'un atelier avec : stations de soudage, perceuse à colonne, outil multi-usage (DREMEL), outils (tournevis, clés, pinces...).

Liste détaillée des équipements
Nom Modèle Marque Notes
Analyseur d'Impédance IM3570 Hioki 4 Hz --> 5 MHz
Analyseur de Réseaux E5061B Aglient 5 Hz --> 3 GHz
Analyseur de Signal 35660A HP 244 µHz --> 102 kHz
Carte d'acquisition (x8) USB-6009 National Instruments IN : 48 kS/s, ±20V; OUT : 150 S/s, 0-5V
Carte d'acquisition (x2) 9234 National Instruments IN : 51.2 kS/s, ±5V, pour accéléromètres
Carte de génération (x2) 9263 National Instruments OUT : 100 kS/s, ±10V
Détection Synchrone MFLI Zurich Instrument /
Détection Synchrone 7230 Ametek /
Détection Synchrone 5302 EG&G /
Imprimante 3D Stream 30Pro MK2 Volumic /
Microscope BX51 Olympus caméra reliée au PC
Oscilloscope (x8) DSOX2002A Keysight 2 voies, GBF intégré
Oscilloscope (x2) DSOX2004A Keysight 4 voies
Pot vibrant V20 DataPhysics DC --> 14 kHz
Profilomètre Optique Photomap 3D Fogale /
Puits sec 9102S Hart Scientific -10°C à 122°C
Station sous pointes CPX LakeShore Vide primaire ou secondaire, contrôle de la température
SMU (Sourcemètre) (x2) B2901A Keysight 1 voie
Testeur ferroélectrique aixPES aixACCT /
Vélocimètre laser OFV 3001 + 502 Polytec /

Logiciels

 
Logo LabVIEW Logo OrCAD Logo MatLab logo solidworks Logo Agilent VEE
 
Nom Dernière Version Editeur Notes
LabVIEW 2022 National Instruments /
OrCAD / Allegro 17.4 (2019) Cadence /
Matlab 2022a Mathworks /
SolidWorks 2022 Dassault Systèmes /
Agilent VEE 9.2 Agilent /