Équipements - Caractérisation Électrique
Moyens techniques et équipements Plateforme Caractérisation électrique
Pour la mesure des courants continus et transitoires
Pour la mesure des courants alternatifs basses fréquences
Focus sur certains instruments de mesures
Ci-dessous, nous détaillons les caractéristiques principales des instruments de mesure disponibles au CIME Nanotech, indiquant également les principes généraux de leur utilisation au CIME Nanotech. Pour chaque appareil, il est possible de télécharger des fichiers fournis par le constructeur, afin d’obtenir plus d’information.
Semiconductor Parameter Analyzer
« LCR meter » (HP 4275 A)
« LCR meter » (Agilent E 4980)
Le E 4980 est un LCR meter plus récent et plus performant que les 4275. Il permet notament de réaliser des mesures plus précises et plus rapides (en temp d'intégration "rapide", une mesure demande 5.6 ms).
En outre, contrairement aux 4275 qui offrent seulement 8 valeurs de fréquences de mesure possibles, le 4980 dispose de 200 fréquences de mesure dans la gamme 20 Hz - 2 MHz. Ceci permet de tracer non seulement les parties réelles et imaginaires de l'impédance mesurée en fonction de la tension appliquée, mais également en fonction de la fréquence de mesure, ce qui offre de nouvelles possibilités.
Au CIME, les deux LCR meters (49 80 et 4275) sont pilotés par le même logitiel. Il n'est donc pas plus difficile pour l'utilisateur d'utiliser l'un ou l'autre des appareils.
mise à jour le 28 avril 2021