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    Nouvel équipement en salle blanche

    La salle blanche du CIME Nanotech s’est dotée récemment d’un équipement CP21 de WEP pour mesurer les profils de dopants dans les matériaux semi-conducteurs (faible et grand gap), par la technique ECV (Electrochemical Capacitance Voltage).

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Mise à jour - 01/02/2024
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